Назначение и основные характеристики


Используется для исследования поверхностных структур методом оптической микроскопии.
  • режим наблюдения: в отраженном свете
  • типы освещения: светлопольный, темнопольный
  • перемещение образца и фокусировка: ручная
  • регистрация изображений: визуальное наблюдение, цифровая камера
Изготовитель Carl Zeiss Jena, ГДР